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X荧光光谱仪在检测电镀镀层厚度方面的优势

更新时间:2023-10-20 点击次数:804

X荧光光谱仪在检测电镀镀层厚度方面具有以下优势:


高精度测量:

X荧光光谱仪可以精确地测量薄膜厚度,精度达到亚微米级别,为材料研发、质量控制等工作提供了可靠的数据支持。

高效率操作:

相较于传统的薄膜测量方法,X荧光光谱仪具备高效率操作的优势。只需将待测样品放置在仪器上,设定相关参数,即可快速进行测量。

自动匹配功能:

对于不同的镀层,X荧光光谱仪具有自动匹配功能,能够对电镀镍和化学镍进行准确的区分,同时也可以在提供的镍磷比例条件下对镀层厚度进行准确的分析。

配置高分辨率探测器:

如果需要同时测试含量与厚度,可以配置高分辨率的SDD探测器,这样可以满足镀层测试的同时也能准确稳定的测试镍磷的含量比例。


总体而言,X荧光光谱仪在电镀镀层厚度检测方面具有高精度、高效率、自动化和多功能等优势。


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