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X荧光光谱仪

简要描述:X荧光光谱仪
应用领域:
贵金属(Pt、Au、Pd、Ag、Rh等)相关制品的生产、销售、回收的检测;
用于各种金属合金(铜合金、铁合金、不锈钢、锡合金等)的成份分析。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-10-18
  • 访 问 量:3044

详细介绍

我公司销售产品包括X射线荧光光谱仪(含能量色散和波长色散型)(XRF)、电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP)、电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS) 、原子荧光光谱仪(AFS)、原子吸收分光光度计(AAS)、光电直读光谱仪(OES)、气相色谱仪(GC)、气相质谱仪(GC-MS)、液相色谱仪(LC)、液相质谱仪(LC-MS)、能谱仪(EDS)、高频红外碳硫分析仪(CS)、矿浆载流在线采样仪(OSA)等。产品主要应用领域有电子电器、五金塑胶、珠宝首饰(贵金属及镀层检测等)、玩具安全(EN71-3等),F963中规定的有害物质:铅Pb、砷As、锑Sb、钡Ba、镉Cd、铬Cr、Hg、硒Se以及氯等卤族元素、建材(水泥、玻璃、陶瓷等)、合金(铜合金、铝合金、镁合金等)、冶金(钢铁、稀土、钼精矿、其它黑色及有色金属等)、地质采矿(各种矿石品位检测设备)、塑料(无卤测试等)、石油化工、高岭土、煤炭、食品、空气、水质、土壤、环境保护、香精香料、纺织品、医药、商品检验、质量检验、人体微量元素和化合物检验等等。销售的仪器设备应用于元素分析,化合物测试,电镀镀层厚度检测等。

X荧光光谱仪

产品信息:

本仪器专门针对贵金属测试,采用新的科技分析X荧光光谱,对贵金属成份进行无损快速分析,该仪器采用新Si-PIN探测器,其分辨率为149±5eV,运用于的基本参数法,能够准确无误地分析出黄金、铂金等材料中含有的其它少量杂质元素,其稳定性和可靠性均处于业内水平。

应用领域:

贵金属(Pt、Au、Pd、Ag、Rh等)相关制品的生产、销售、回收的检测;

用于各种金属合金(铜合金、铁合金、不锈钢、锡合金等)的成份分析。

功能:

开放式工作曲线,可以根据需求建立新工作区

安全性能:迷宫式设计,*达到辐射安全指标

测试操作简单,实现傻瓜式操作模式

报告模板多样化,适应各种测试需求

参数:

分析软件:Ux-6280贵金属分析软件

分析元素种类:26种元素可同时分析

分析方法:基本参数法(定量)

分析元素范围:Na-U,可同时分析26种元素

测量范围:ppm-100%

测量时间:100-300s

度:0.1%(常量相对误差)

分辨率:149±5eV

管压:5KV—50KV

管流:50uA—1000uA

功率:350W

外形尺寸:640(W)*474(D)*412(H)(mm3

样品仓尺寸:300(W)*300(D)*100(H)(mm3

重量:约48Kg

工作环境:15-30°C,相对湿度≤85%(不结露)

工作电源:AC220-240V,50/60Hz,350W

标准配置:

探测器: 2级半导体电制冷;探测器晶体厚度500μm;探测灵敏面积6mm2;Be窗厚度为1mil

压电源:压范围0-50kV,功率50W,8h稳定性0.05%

X射线管:薄铍窗侧窗X射线管(Mo靶、Rh靶)

清摄像头装置

定位装置

自动开盖装置

X荧光光谱仪

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