XRF检测仪

XRF检测仪

我公司销售产品包括X射线荧光光谱仪（含能量色散和波长色散型）（XRF）、电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP）、电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS) 、原子荧光光谱仪（AFS）、原子吸收分光光度计（AAS）、光电直读光谱仪（OES）、气相色谱仪（GC）、气相质谱仪（GC-MS）、液相色谱仪（LC）、液相质谱仪（LC-MS）、能谱仪（EDS）、高频红外碳硫分析仪（CS）、矿浆载流在线采样仪（OSA）等。销售的仪器设备应用于元素分析，化合物测试，电镀镀层厚度检测等。

X射线荧光光谱分析仪：

X射线荧光光谱分析仪应对有害元素检测、油品分析、矿石分析、合金分析、电镀镀层、环境分析的产品，目前正服务于各大重要部门。

仪器性能：

检测精度高。

高的稳定性，高的重复性。

优异的线性相关性。

铑元素阳级本身就提高了2倍检测镁元素的结果。

大型SDD硅漂移探测器的使用将从镁到硫元素的检测下限/精度提高了四倍。

结构更精密，缩短了射线管、探测器与被测样品之间的距离，对于某些应用信号提高了~40%.

新的滤波轮更轻、更薄，在位置上更加接近被测样品，具有8个滤波器，可适应高的配置，不同的元素采用不同的滤波器，产生好的分析效果。

超过1/3的机体采用铝合金外壳设计，仪器顶部有专用的槽式散热装置，整个体系使散热非常有效，延长机器寿命, X射线分析仪工作更加更稳定，从而故障率极低。

SDD X射线探测器具有惊人的计数率,高达200000,比普通的Si-Pin X射线探测器获取数据的能力高10倍，进一步提高了Mg;Al;Si;P;S等轻质元素性能。

内置的气压计可以纠正气压，气压计压力感应,可根据不同的压力调整，从而是检测值更加准确，仪器预设海平面，客户在不同的海拔高度测试，无需再次校准。

内置的加速器可探测运动和震动，使仪器不用时待机，拿起时工作。

真空系统（选配）：真空系统可提高Mg;Al;Si;P;S等轻质元素的检测下限。

智能接驳座可对额外电池充电、仪器内置电池同时充电并显示充电进度，接驳座能连接电脑交换数据，可让仪器即时标准化，仪器随时待命状态。

仪器具有很好的平衡性，在测试时能立于工作台上，不需要用手扶持，一键式按钮设计，即使长时间操作也无疲劳感。

工业级可触摸的显示屏与主机一体化密封设计，可承受野外恶劣的工作环境。密封的仪器可在雨天、尘土飞扬的矿山环境中长时间正常工作。

仪器技术性能：

真正实现在现场进行无损,快速,准确的检测,直接显示元素的百分比含量。

只需将合金分析仪直接接触待测合金表面，无须长时间等待即可现场确定合金等级。

被检测的样品的对象可以是合金块、合金片、合金线、合金渣、合金粉。

不规则或小型样品的补偿性测试方法能检测很小或很少的样品,如直径为0.04mm的细丝也能立即辨认。

式可延伸的探头设计能对管道内部、焊缝,等位置进行检测。

可检测温度高达450℃的高温材料。

可现场在库中添加,编辑,删除合*号。

全球快的分析速度,仅需2秒钟就可识别合金元素。

用户化windows CE 6.0系统驱动的微电脑显示系统使所有功能皆可现场完成，用户化windows CE仅保留有windows与Delta系统有关的性能，使程序更具灵活性。

无需借助电脑，可在现场随意查看，放大相关元素的光谱图。

电磁干扰被屏蔽，即使在靠近手机或双向无线通信装置处也能正常工作。

仪器元素分析范围：

可分析从从12号元素Mg到94号元素PU之间的所有元素（仪器配置不同测试范围不同）。

仪器用途及应用：

用于现场，无损，快速，准确分析检测合金元素和合*号的识别。

合金材料鉴别（PMI）

来料检验；库存材料管理；安装材料复检

分析仪携带方便，使用简单，分析速度快，精度高，其结果直接显示合*号、金属成分的百分比含量，从而使分析仪成为合金材料鉴别的供应商。

金属废料回收

废旧金属的回收、再利用需要分析仪，确保对大量繁杂多样的合金种类及材料品质，进行现场快速准确的分析检测。为购销双方在原材料交易时作出迅速、可靠的判定，并提供必要的信息。

质量保证与质量控制（QA/QC）

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