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供应x荧光电镀厚度检测仪
X荧光金属镀层测厚仪能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能*,而且价钱*.只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大的产品.是线路板,五金电镀,首饰,端子等行业的.可测量各类金属层、合金电镀厚度.
镀层检测:
2.1、常见金属镀层有:
镀层 基体 |
Ni |
Ni-P |
Ti |
Cu |
Sn |
Sn-Pb |
Zn |
Cr |
Au |
Zn-Ni |
Ag |
Pd |
Rh |
Al |
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Cu |
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Zn |
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Fe |
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SUS |
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2.2、单层厚度范围:
金镀层0-8um,
铬镀层0-15um,
其余一般为0-30um以内,
可最小测量达0.001um。
2.3、多层厚度范围
Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um Ni分析厚度:0-30um
Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um Ni分析厚度:0-30um
Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um Ni分析厚度:0-30um
2.4、镀层层数为1-6层
2.5、镀层精度相对差值一般<5%。
2.6、镀层成分含量:Sn-Pb合金成分分析;Zn-Ni合金成分分析。
单层分析精度,以Ni举例:(相对差值)
Ni层厚度(um) |
保证精度 |
<1.0um |
<5% |
1.0-5.0um |
<3% |
5.0-10um |
<3% |
10-20um |
<3% |
>20.0um |
<3% |
性能特点
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
采用度定位激光,可自动定位测试度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
分辨率探头使分析结果更加
良好的射线屏蔽作用
测试口度敏感性传感器保护
可测元素范围:
钛() – 铀(U)
X-射线管:油冷,超微细对焦
压:0-50KV(程控)
电脑系统:IBM相容,17"显示器
综合性能:镀层分析
镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.
镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.
定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.
统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.
多年来,我们一直致力于为PCB 厂商,电镀行业,科研机构,半导体生产等电子行业提供性能的仪器和的售后服务。让客户满意,为客户创造大的价值是我们始终追求的目标,因为我们坚信,客户的需要就是我们前进的动力。
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