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钢材成份测试仪器

简要描述:钢材成份测试仪器
X射线荧光光谱钢材成分测试机器设备已成为质量体系中材料确认、半成品检验、成品复检的仪器。
钢材化学成分测试仪六种可选择的滤波器根据不同的实物自动调节。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-09-17
  • 访 问 量:1926

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    详细介绍

    钢材成份测试仪器

    手持式仪器简介:

    主要技术指标

    合金分析仪检测元素及识别合金pai号种类:

    Ø可分析从从钛 ()到钚 (Pu)之间的所有元素,本机标配25种标准元素。包含钛, 钒V, 铬Cr, 锰Mn, 铁Fe, 钴Co, 镍Ni, 铜Cu, 锌Zn, 硒Se, 锆Zr, 铌Nb, 钼Mo, 铪Hf, 钨W, 钽Ta, 铼Re, 铅Pb, 银Ag, 锡Sn, 铋Bi, 锑Sb,金Au,铂Pt,钯Pd。

    合金分析仪用途及应用领域:

    1、用于现场,无损,快速,准确分析检测合金元素和合金pai号的识别。
    2、合金材料鉴别(PMI)。
    3、来料检验,库存材料管理,安装材料复检。
    4、由于在石化建设,金属冶炼,压力容器,电力电站,石油化工,精细化工,制药,航空航天等行业领域
    5、便携式XRF 合金分析仪用以确保生产设备与管道中所使用的合金零部件与设计要求的规格**。
    6、废旧金属的回收、再利用需要仪器,确保对大量繁杂多样的合金种类及材料品质,进行现场快速准确的分析检测。
    合金分析仪用途及技术规格:

    项目

    合金分析仪

    激发源

    射线管靶材5种可选择金(Au)、银(Ag)、钨(W)、钽(Ta),钯(Pb

    电压电流与功率

    大功率微型X射线管40 KV100MA4W

    探测器

    超性能分辨率Si-Pin X射线探测器

    探测器制冷温度

    Peltier效应半导体制冷,制冷温度-35

    解析度

    <180

    电源

    8小时/2块锂电源及交流电源

    处理器

    Intel 400MHz StrongArm处理器

    操作系统

    移动Windows Ce系统

    兼容性

    蓝牙,GPS,打印

    数据分析

    多种分析模式,包括基本参数,Compton归一化,经验校准模式,光谱配色

    数据显示

    集中于ppm与百分比(%)显示,光谱或峰强度(计数率)或用户定的单位

    数据传输

    RS232串行电缆,蓝牙,文件TXTEXCEL格格输出。

    显示屏

    彩色,分辨率TFT工业级触摸屏

    合金分析仪标准配置表:

    1.X荧光光谱分析仪主机一台;
    2.合金分析测试软件一套;
    3.锂电池(两块) ;
    4.锂电池充电器一套;
    5.数据下载数据线一套;
    6.316标准化一块;
    7.用户手册一份;
    8.配置表一张;
    9.窗口保护膜三片;
    10.原装防水主机保护箱一个;

    主要性能特点

    1、更的检测精度。

    2、真正实现现场,快速,无损,准确的检测,直接显示合金pai号,元素,百分比含量。

    3、超大的功率。40KV,100MA达4W的大功率X射线管技术使仪器具有更低检测下限。

    4、智能光束可, V精度可达0.02%,能很好的区分304与321,P91与9铬,7级钛与纯钛。

    5、更低的探测器温度。-35℃的超低温工作状态,使仪器具有的解析度。

    6、更的检测精度,多次测试的平均值统计功能可有效地提仪器的检测精度。

    7、不规则或者很小样品的智能探测。

    8、自动停止功能,窗口前无被测物是,启动仪器会在5秒后自动停止测试。

    9、可鉴定数千个合金pai号,可同时检测的牌号达300多种,用户可自行定义300种合金pai号。

    10、可延伸的探头对管道内壁,焊缝,小型部件等平常难以接触的位置进行检测。

    11、无需借助电脑,可在现场随意,查看,放大相关元素的光谱图。

    12、无需借助电脑,可在现场添加,编辑,删除合金pai号。

    13、仪器采用铝合金具有更强的散热能力、抗震动能力、自动防幅射保险装置。

    14、一键式按钮设计(用户在测试过程中无需一直压住按钮)。

    15、可选择的微型打印机可让你时时打印数据。


    台式仪器简介:
    X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。
    该仪器的主要特征是利用智能真空系统,可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果,利用XRF技术可对含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行分析,在冶炼过程控制中起到了测试时间短,大大提了检测效率和工作效率的作用。
    另外,在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。
    技术参数
    产品名称:X荧光光谱仪
    测量元素范围:从钠(Na)到铀(U)
    元素含量分析范围: ppm—99.99%(不同元素,分析范围不同)
    同时分析元素:一次性可测几十种元素
    测量时间:30秒-200秒
    探测器能量分辨率为:145±5eV
    管压:5KV-50KV
    管流:50μA-1000μA
    测量对象状态:粉末、固体、液体
    输入电压:AC 110V/220V
    环境温度:15℃-30℃
    环境湿度:35%-70%
    标准配置
    效超薄窗X光管
    SDD硅漂移探测器
    数字多道技术
    光路增强系统
    信噪比电子线路单元
    内置清晰摄像头
    自动切换型准直器和滤光片
    自动稳谱装置
    三重安全保护模式
    可靠的整体钢架结构
    真空泵
    应用领域
    合金检测、全元素分析、有害元素检测(RoHS、卤素)

    钢材成份测试仪器

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