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金属镀层厚度测量仪器

简要描述:金属镀层厚度测量仪器
金属镀层测量仪定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.

  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-09-18
  • 访 问 量:3755

详细介绍

金属镀层厚度测量仪器

【详细说明】

X荧光金属镀层测厚仪能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能*,而且价钱*.只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大的产品.是线路板,五金电镀,首饰,端子等行业的.可测量各类金属层、合金电镀厚度.金属镀层厚度测量仪器

镀层检测:

2.1、常见金属镀层有:

镀层

基体

Ni

Ni-P

Ti

Cu

Sn

Sn-Pb

Zn

Cr

Au

Zn-Ni

Ag

Pd

Rh

Al

Cu


Zn


Fe

SUS

2.2、单层厚度范围:

金镀层08um,

铬镀层0-15um,

其余一般为0-30um以内,

可最小测量达0.001um

2.3、多层厚度范围

Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um Ni分析厚度:0-30um

Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um Ni分析厚度:0-30um

Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um Ni分析厚度:0-30um

2.4、镀层层数为1-6

2.5、镀层精度相对差值一般<5%

2.6、镀层成分含量:Sn-Pb合金成分分析;Zn-Ni合金成分分析。

单层分析精度,以Ni举例:(相对差值)

Ni层厚度(um)

保证精度

<1.0um

<5%

1.0-5.0um

<3%

5.0-10um

<3%

10-20um

<3%

>20.0um

<3%

分析范围: 可分析3层15个元素
分析厚度:一般0.05-30um(不同元素厚度有所不同)
工作电压:AC 110V/220V(建议配置交流净化稳压电源)
测量时间:40秒(可根据实际情况调整)
探测器分辨率:(160±5)eV
光管压:5-50kV
管流:50μA-1000μA
准直器:配置不同直径准直孔,小孔径φ0.2mm

综合性能:镀层分析
镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.
镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.

定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.

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