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详细介绍
检测镀层机器设备
产品介绍
X射线荧光分析测厚仪能提供:镀层厚度和元素分析功能,不但性能*,而且*。分析镀层厚度和元素成份同时进行,只需数秒钟便能非破坏性地得到准确的测量结果,多层镀层的厚度测量也一样能胜任。轻巧的样品室,适合不同大小的样品,功能实用,准确性,是五金电镀,首饰,端子等行业的选。
X射线荧光分析测厚仪特点:
ACZET系列X射线镀层测厚仪是基于X射线荧光技术,该技术已经被证实并且得到广泛应用,可以在无须样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。它能分析固体和液体,元素范围包括从元素周期表中的22到U92,并且具有不同大小的样品舱。
系列镀层测厚仪的优势
操作简单,只需要很少的培训就可以操作
检测速度快,无损检测只需几秒钟
可测试单层及多层镀层的厚度
可以测试电镀液中金属离子含量
对测试样品*无损
市场上性价比
自动化批量检测:可选配XYZ全自动工作台
应用行业广泛:电子,珠宝,金属加工等等
操作软件
是一款具备庞大应用功能的软件,并且我们更多新的应用正不断地加入更多新的应用。
可选软件模块
µ-Master 用于镀层厚度测量
Element-Master 用于材料分析
Report-Master 用于生成报告文件
Data-Master 用于数据库管理
%-Master 用于材料分析(珠宝)
Liquid-Master 用于电镀液分析
选配置
自动的多准直器系统
软件控制XYZ轴实现自动化批量检测
系列技术特点
一、功能
1. 采用X射线荧光光谱法无损测量金属镀层、覆盖层厚度,测量方法满足GB/T 16921-2005标准(等同ISO3497:2000、 ASTM B568和DIN50987)。
镀层元素范围:钛~铀,包含常见的金、镍、铜、银、锡、锌、铬、钯等。
镀层层数:多至5层。
测量点尺寸:圆形测量点,直径约0.2-0.8毫米。
测量时间:通常35秒-180秒。
样品尺寸:330 x 200 x 170 mm (长x宽x)。
测量误差:通常小于5%,视样品具体情况而定。
可测厚度范围:通常0.01微米到30微米,视样品组成和镀层结构而定。
同时定量测量8个元素。
定性鉴定材料达20个元素。
自动测量功能:编程测量,自定测量;修正测量功能:底材修正,已知样品修正
定性分析功能:光谱表示,光谱比较;定量分析功能:合金成份分析
数据统计功能:x管理图,x-R管理图,直方柱图。
二、特点
采用基本参数法校准,可在无标样情况下生成校准曲线以完成测量。
X射线采用从上至下的照射方式,即使是表面低不一的样品也可以正确测量。反之,如果是从下至上的照射方式,遇到表面凹凸的样品,无法调整Z轴距离,导致测量光程的变化,引起测量的误差。
具有多种测试功能,仅需要一台仪器,即可解决多种测试
相比其他分析设备,投入成本低
仪器操作简单,便可获得很好的准确性和重现性
综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析
镀层分析:可分析四层以上厚度,的FP分析软件,真正做到无标准片亦能进行准确测量(需要配合纯材料),为您大大节省购买标准片的成本.*超越其他品牌的所谓FP软件.
定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
Item 项目 |
Part& RefNumber 部件号 |
Commodity &Description 货物及描述 |
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CubeX射线镀层测厚仪 |
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检测镀层机器设备
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