Pcb电路板镀金层厚度检测仪

Pcb电路板镀金层厚度检测仪

产品类型：能量色散X荧光光谱分析设备

产品名称：镀层厚度分析仪(可选配镀液检测和RoHS检测功能）

型号：iEDX-150WT

产品优势及特征

（一）产品优势

镀层检测，最多镀层检测可达5层；镀层分析精度为0.001μm。

超大可移动全自动样品平台620*525(长*宽)，样品台移动距离前后左右各100mm；最大样品高度35mm。

激光定位和自动多点测量功能；

可检测固体、液体、粉末状态材料；

运行及维护成本低、无易损易耗品，对使用环境相对要求低；

可进行未知标样扫描、无标样定性，半定量分析；

操作简单、易学易懂、精准无损、高品质、高性能、高稳定性，快速出检测结果（10-30秒）依配置而定；

可针对客户个性化要求量身定做辅助分析配置硬件；

软件升级；

无损检测，一次性购买标样可使用；

使用安心无忧，售后服务响应时间24H以内，提供保姆式服务；

可以远程操作，解决客户使用中的后顾之忧。

可进行RoHS检测（选配功能），应对新版中华人民共和国RoHS检测要求，欧盟及北美RoHS检测等要求标准，精确的测试RoHS指令中的铅、汞、镉、铬、钡、锑、硒、砷等重金属，测试无卤素指令中的溴、氯等有害元素。亦可对成分进行分析。

（二）产品特征

高性能高精度X荧光光谱仪（XRF）

计算机/ MCA(多通道分析仪)

2048通道逐次近似计算法ADC（模拟数字转换器）

Multi Ray. 运用基本参数（FP）软件，通过简单的三步进行无标样标定，使用基础参数计算方法，对样品进行精确的镀层厚度分析，可对镀液进行定量分析。

可以增加RoHS检测功能

MTFFP (多层薄膜基本参数法) 模块进行镀层厚度及全元素分析

励磁模式50987.1 DIN / ISO 3497-A1

吸收模式50987.1 DIN / ISO 3497-A2

线性模式进行薄镀层厚度测量

相对（比）模式无焦点测量DIN 50987.3.3/ ISO 3497

多镀层厚度同时测量

单镀层应用[如：Cu/ABS等]

双镀层应用[如：Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]

三镀层应用[如：Au/Ni-P/Cu/Brass等]

四镀层应用[如：Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]

合金镀层应[如：Sn-Ni/ABS Pd-Ni/Cu/ABS等]

Smart-Ray. 快速、简单的定性分析的软件模块。可同时分析20种元素。半定量分析频谱比较、减法运算和配给。

Smart-Ray. 金属行业精确定量分析软件。可一次性分析25种元素。最小二乘法计算峰值反卷积。采用卢卡斯-图思计算方法进行矩阵校正及内部元素作用分析。金属分析精度可达+ /-0.02%，贵金属（8-24 Karat) 分析精度可达+ /-0.05kt

Smart-Ray. 对镀液进行分析。采用不同的数学计算方法对镀液中的金属离子进行测定。含全元素、内部元素、矩阵校正模块。

Multi-Ray, Smart-Ray. WINDOWS7软件操作系统

完整的统计函数均值、标准差、 低/高读数，趋势线，Cp 和 Cpk 因素等

自动移动平台，用户使用预先设定好的程序进行自动样品测量。最大测量点数量= 每9999 每个阶段文件。每个阶段的文件有最多 25 个不同应用程序。特殊工具如"线扫描"和"格栅"。每个阶段文件包含*统计软件包。包括自动对焦功能、方便加载函数、瞄准样品和拍摄、激光定位和自动多点测量功能。

产品配置及技术指标说明

X射线管：高稳定性X光光管，使用寿命（工作时间>18,000小时）

微焦点x射线管、钼、钨、铑钯可选(高配微焦钼靶）

铍窗口，光斑尺寸75um，油绝缘，气冷式，辐射安全电子管屏蔽。

50kV，1mA。高压和电流设定为应用程序提供良好性能。

探测器：SDD 探测器

能量分辨率：125±5eV

滤光片/可选

初级滤光片：Al滤光片，自动切换

多个准直器：客户可选准直器尺寸或定制特殊尺寸准直器。

(0.2/0.3/0.5/1/4/4mm)

样品点大小：最小为准直器大小的1.5倍

平台：软件程序控制步进式电机驱动X-Y轴移动大样品平台。
激光定位、简易荷载最大负载量为5公斤
软件控制程序进行持续性自动测量

样品定位：显示屏上显示样品锁定、简易荷载、激光定位及拍照功能

6. 分析谱线：

- 2048通道逐次近似计算法ADC（模拟数字转换）

- 基点改正（基线本底校正）

- 密度校正

- Multi-Ray软件包含元素ROI及测量读数自动显示

7．视频系统：高分辨率CCD摄像头、彩色视频系统

- 观察范围：3mm x 3mm

- 放大倍数：40X

- 照明方法：上照式

- 软件控制取得高真图像

8. 检测厚度（正常指标）：

- 原子序数 22 - 24 : 6 – 1000 微英寸

- 原子序数 25 - 40 : 4 – 1200 微英寸

- 原子序数 41 - 51 : 6 – 3000 微英寸

- 原子序数 52 - 82 : 2 – 500 微英寸

9. 计算机、打印机（赠送）

含计算机、显示器、打印机、键盘、鼠标

含Windows XP/Win 7软件

Multi-Ray镀层分析软件

注：设备需要配备稳压器，需另计。

光谱仪软件算法的主要处理方法

1) Smoothing谱线光滑处理

2) Escape Peak Removal逃逸峰去除

3) Sum Peak Removal叠加峰去除

4) Background Removal背景勾出

5) Blank Removal空峰位去除

6) Intensity Extraction强度提取

7) Peak Integration图谱整合

8) Peak Overlap Factor Method波峰叠加因素方法

9) Gaussian Deconvolution高斯反卷积处理

10) Reference Deconvolution基准反卷积处理

光谱仪软件功能

1) 软件应用
- 单镀层测量
- 线性层测量，如：薄膜测量
- 双镀层测量
- 针对合金可同时进行镀层厚度和元素分析
- 三镀层测量。
- 无电镀镍测量
- 电镀溶液测量
- 吸收模式的应用 DIN50987.1/ ISO3497-A2

- 励磁模式的应用DIN50987.1/ ISO3497-A1
- 基本参数法可以满足所有应用领域的测量

2) 软件标定
-自动标定曲线进行多层分析

-使用无标样基本参数计算方法

-使用标样进行多点重复标定

-标定曲线显示参数及自动调整功能

3) 软件校正功能：
- 基点校正（基线本底校正）

- 多材料基点校正，如：不锈钢，黄铜，青铜等

- 密度校正

4) 软件测量功能：
- 快速开始测量

- 快速测量过程

- 自动测量条件设定（光管电流，滤光片，ROI）

5) 自动测量功能（软件平台）

- 同模式重复功能（可实现多点自动检测）

- 确认测量位置 (具有图形显示功能)

- 测量开始点设定功能（每个文件中存储原始数据）

- 测量开始点存储功能、打印数据

- 旋转校正功能

- TSP应用

- 行扫描及格栅功能

6) 光谱测量功能

- 定性分析功能 （KLM 标记方法）

- 每个能量/通道元素ROI光标

- 光谱文件下载、删除、保存、比较功能

- 光谱比较显示功能：两级显示/叠加显示/减法

- 标度扩充、缩小功能（强度、能量）

7） 数据处理功能

- 监测统计值： 平均值、 标准偏差、 最大值。

- 最小值、测量范围，N 编号、 Cp、 Cpk，

- 独立曲线显示测量结果。

- 自动优化曲线数值、数据控件

8）其他功能

- 系统自校正取决于仪器条件和操作环境

- 独立操作控制平台

- 视频参数调整

- 仪器使用单根USB数据总线与外设连接

- Multi-Ray、Smart-Ray自动输出检测报告（HTML，Excel）

- 屏幕捕获显示监视器、样本图片、曲线等.......

- 数据库检查程序

- 镀层厚度测量程序保护。

仪器维修和调整功能

- 自动校准功能；

- 优化系统取决仪器条件和操作室环境；

- 自动校准过程中值增加、偏置量、强度、探测器分辨率，迭代法取决于峰位置、 CPS、主X射线强度、输入电压、操作环境。

产品保修及售后服务

1. 协助做好安装场地、环境的准备工作、指导并参与设备的安装、测试、诊断及各项工作。

2. 对客户方操作人员进行培训。

3. 安装、调试、验收、培训及技术服务均为免费在用户方现场对操作人员进行培训。

4. 整机保修一年，终身维修,保修期从设备验收合格当日起计算。

5. 免费提供软件升级

6. 保修期内，提供全天 24小时（包含节假日）技术支持及现场维护服务。在接到设备故障报修后，提供远程故障解决方案（1小时内）, 如有需要，24小时内派人上门维修和排除故障。

附页：

本公司新推出PCB基板覆铜厚度便携式分析仪器，使用简单方便，技术处于 ITG-C10是PCB专用铜厚度计。将检测计垂直放在镀铜样品上1 - 2秒，平板电脑屏幕即显示厚度数据。因为ITG-C10配备有锂充电电池，检测计和分析仪通过蓝牙发送和接收数据，所以这种便携式测铜厚度计可以随时随地检测样品。该仪器使用Android OS操作系统，操作方便，检测结果可直接以EXCEL格式输出。

Pcb电路板镀金层厚度检测仪