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Pcb电路板电镀层厚度检测仪

简要描述:Pcb电路板电镀层厚度检测仪
金镀层0-8um,
铬镀层0-15um,
其余一般为0-30um以内,
可最小测量达0.001um。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-11-07
  • 访 问 量:1360

详细介绍

Pcb电路板电镀层厚度检测仪

仪器部件及功能:

仪器主要组件

组件

描述

参数

配件产地

直流电源

电压

220V 50/60Hz

进口

功率

600W

X高压电源

输入电压

24V

进口

总功率

50W

输出电压

0-50KV

输出电流

0-2mA

X光管

管电压

4-50KV

进口

管电流

0-1mA

功率

50W

靶材

MoWRh

聚焦点

75um

全自对焦

自动对焦,自动检测

探测器

类型

硅漂移SDD

进口

冷却方式

电子制冷

分辨率

125±5eV

检测面积

25mm2

Be

0.3-0.5mil

准直器

直径(mm

0.1,0.2,0.3,0.5,1,4

进口可定制

滤片

材料

Ti,Al, Ni, Mo自动切换


摄像头

分辨率

1.3million放大倍数40X

进口


广域观察

300*300mm范围电脑调节观测范围

进口

控制系统

计算机

具有USB接口的PC

国产联想电脑

CPU

双核2.8G


内存\硬盘

2G\500G


控制板

X光控制,机械动作控制

进口

外形尺寸

尺寸

475x787x375mmWxDxH


重量

85Kg


测试舱

尺寸

450*510*240mm(X*Y*Z)

进口

平台移动范围

250mm*250mm*100mm(X*Y*Z)


样品台尺寸

300*300mm


平台最大负荷

5Kg


工作距离

工作间隙

5mm


软件

操作系统

windowXP,win7

微软

分析软件

MultiRayFP算法

韩国ISP

2、镀层检测:

2.1常见金属镀层有:

镀层

基体

Ni

Ni-P

Ti

Cu

Sn

Sn-Pb

Zn

Cr

Au

Zn-Ni

Ag

Pd

Rh

Al

Cu


Zn


Fe

SUS

2.2、单层厚度范围:

金镀层08um,

铬镀层0-15um,

其余一般为0-30um以内,

可最小测量达0.001um

2.3、多层厚度范围

Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8umNi分析厚度:0-30um

Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30umNi分析厚度:0-30um

Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15umNi分析厚度:0-30um

2.4、镀层层数为1-6

2.5、镀层精度相对差值一般<5%

2.6、镀层成分含量:Sn-Pb合金成分分析;Zn-Ni合金成分分析。

2.7、镀层分析优势:分析PCB金手指最小尺寸可达0.2mm

单层分析精度,以Ni举例:(相对差值)

Ni层厚度(um)

保证精度

<1.0um

<5%

1.0-5.0um

<3%

5.0-10um

<3%

10-20um

<3%

>20.0um

<3%

3、元素成分分析

3.1镀液分析,目前常见镀液元素分析有:金、银、锡、铜、镍、铬、锌。

3.2 ROHS和无卤检测,高性能SDD探测器可以精确检测无卤,实现镀层与环保一机多用。

3.3金属成分分析,在检测ROHS同时可检测金属中其他各元素成分含量。

3.4检测精度:

3.4.1CrCdHgCu, Zn, Fe, Ni, Pb, Mn, W, Au, Ag, Sn等重金属

检测限达1ppm

v对这些金属测试分析稳定的读取允许差值本仪器已达到下列标准:

A.检测含量大于5%的元素稳定的测试读取相对差值小于1%

B.检测含量在0.55%的元素稳定的测试读取相对差值小于2%

C.检测含量在0.10.5%的元素稳定的测试读取相对差值小于5%

D.检测含量低于0.1%的元素测试读取相对差值变化率小于10%

4、自动多点测试

5、报告打印:

可以PDFExcel格式输出报告,历史数据查询方便

6、安全使用,维护与保养

1.1由于仪器非常精密,未经允许情况请不要打开仪器外壳,不要对X射线源和探测器进行改变,由用户自身原因造成仪器损坏本公司将不负责任。

1.2仪器安装一定要平稳,仪器后面离墙距离不得小于30厘米,必须使用标准的220V交流电,电压不稳情况要配备稳压电源,插座必须接地良好,由用户电源不合乎要求造成损失由用户负责。

1.3请不要用湿的手触摸电源部分,带水的手也不要碰仪器外壳以免发生触电。

1.4进行测量时,因为高电压流至X射线源,仪器运行时,不要尝试打开或触摸盖子。由于高电压源必须通过自动运行或者遵循用户指南中止。

1.5仪器环境要求:仪器使用环境需清洁,温度适宜15℃-28℃,湿度小于80%,电源:AC: 220V±5V

以上细节均有可能造成无法预测后果,买方应予以基本遵守。

卖方供货范围

数量

型号/名称

1

iEDX-150WT测厚仪

功能:镀层,RoHS,金属成分

1

计算机

联想商务机,Windows 7专业版操作系统; CD-ROM

20寸液晶显示器;ASCII键盘和鼠标

1

打印机

喷墨打印机

1

附件:

系统连接电缆

1

用户手册

书面版




1

包装箱


服务

1

指导安装和调试

包括

1

试车后现场培训

包括





验收和保证值

本协议中的性能指标所引用的术语及定义都是根据行业标准, 所有误差大都被表示成测量厚度的百分比或者绝对差值.除特别说明外,所有数据指标都在西格玛的可信状态下。

性能测试所用的标样片都是国际标准的标准样品,在相同的测试点进行测试.这些样本必须受到保护,以免机械或化学的改变,这些将影响到X射线的测量。

性能测试要求环境温度范围在+15°~+28°之间。

环境相对湿度 ≤80

源:AC: 220V±5V

性能主要测试精度和重复性;不能使测厚仪在测量过程中产生“晃动"

4.1测量精度

1)精度(单层)

测厚仪的检测精度表

Ni层厚度(um)

保证精度

<1.0um

<5%

1.0-5.0um

<3%

5.0-10um

<3%

10-20um

<3%

>20.0um

<3%





测试方法:在相同的操作条件下,对同一标准样板进行5次检测,检测到的平均数据与标样板的实际数据作比较。检测精度为检测平均值与标准样片实际值之差(平均误差)

2)两层及以上:

两层及以上的首层精度符合单层的测试结果,但是第二层以上比较复杂,要根据上面一层的厚度来决定。在第一层厚度小于2um时,一层和二层的测试精度基本符合单层的精度,参照如下的测试报告,第一层金标样厚度0.101um,第二层镍的标样厚度为4.52um

在第一层厚度在25um时会大大降低第二层的和第三层的测试精度,第二层的误差率会在510%,第三层的误差率小于15%

4.2重复性

卖方保证重复性值:±5%

重复性的检测应在仪器校准后:在相同的操作条件下,使用相同的检测样板做连续重复检测,连续测量必须在同一检测点位置使用一同样片间隔60,测量一共进行10,每次测量值与10次平均值进行对比。

重复性=平均误差÷平均值×100 %

五、交货期

5.1交货期:以合同约定期为准

5.2交货地点:合同中实际约定地点

5.3配套的产品说明书及其它与仪器相关的操作说明注意事项等。

制造及检验标准

6.1按买卖双方协商技术文件。

6.2卖方制造合同产品时所采用的标准、规范、使用的材料应符合国家或国际通行的最新颁发的现行有关标准规范。

6.3卖方提供的相关《说明书》以及手册规定的条款。

6.4设备必须保证全新的出厂标准。

技术服务

卖方向买方派遣指导安装、服务人员。合同签定后,卖方应负责本项目的项目经理,负责协调卖方技术人员按双方约定的时间去现场指导安装、调试、技术交底、人员培训等。

质保条款

8.1卖方所供设备自验收合格之日起,质保期为一年。质保期内产品发生的质量问题,卖方必须免费提供维修和咨询服务,如电话无法解决的问题,卖方必须在接到买方的现场维修通知后24小时内赶到产品安装地点。

8.2因卖方供应的设备不符合技术协议中所规定的条款及产品质量原因对买方造成的损失的卖方应承担相关责任。

本协议一式贰份,卖买双方各壹份。

本协议作为供货合同的组成部分,经双方签字后与供货合同具有同等法律效力。未尽事宜双方友好协商解决。

附设备验收单:

设备验收单

设备名称

X荧光光谱仪

规格型号

iEDX-150(W)T

出厂编号


生产厂商

ISPKorea

购置部门


购置日期


验收日期


验收人员


验收

情况

验收项目

验收检查内容

验收记录

包装检查

包装完整,无损坏,

碰撞现象


资料检查

说明书、合格证、保修卡、装箱清单等技术资料齐备


外观检查

外观完好,无破损及脏污


附件检查

附件齐全


性能检查

准确度、精度等满足要求


其他检查

项目满足采购需求


验收

结论

□合格;□不合格,需厂家整改;□退换;

验收人签名:日期:

验收

签字

验收人


设备管理

部门主管


备注











Pcb电路板电镀层厚度检测仪

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