金、钯、镍、铜等多元素X射线光谱测厚仪

金、钯、镍、铜等多元素X射线光谱测厚仪

我公司销售产品包括X射线荧光光谱仪（含能量色散和波长色散型）（XRF）、电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP）、电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS) 、原子荧光光谱仪（AFS）、原子吸收分光光度计（AAS）、光电直读光谱仪（OES）、气相色谱仪（GC）、气相质谱仪（GC-MS）、液相色谱仪（LC）、液相质谱仪（LC-MS）、能谱仪（EDS）、高频红外碳硫分析仪（CS）等。产品主要应用领域有电子电器、五金塑胶、珠宝首饰（贵金属及镀层检测等）、玩具安全（EN71-3等）,F963中规定的有害物质：铅Pb、砷Ａs、锑Sb、钡Ｂa、镉Cd、铬Cr、Ｈg、硒Se以及氯等卤族元素、建材（水泥、玻璃、陶瓷、耐火材料等）、合金（铜合金、铝合金、镁合金等）、冶金（钢铁、稀土、钼精矿、其它黑色及有色金属等）、地质采矿（各种矿石品位检测设备）、塑料（无卤测试等）、石油化工、高岭土、煤炭、食品、空气、水质、土壤、环境保护、香精香料、纺织品、医药、商品检验、质量检验、医疗器械重金属含量测试、人体微量元素和化合物检验等等。销售的仪器设备应用于元素分析，化合物测试，电镀镀层厚度检测等。下面介绍电镀膜厚检测仪器：

镀层检测：

2.1、常见金属镀层有：

2.2、单层厚度范围：

金镀层0－8um,

铬镀层0-15um,

其余一般为0-30um以内，

可最小测量达0.001um。

2.3、多层厚度范围

Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um Ni分析厚度:0-30um

Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um Ni分析厚度:0-30um

Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um Ni分析厚度:0-30um

2.4、镀层层数为1-6层

X射线膜厚测试仪产品优势：

1. 镀层检测，多镀层检测可达5层，精度及稳定性可控制在+/-5%内。

2. 激光定位和自动多点测量功能。

可检测固体、粉末状态材料。

运行及维护成本低、无易损易耗品，对使用环境相对要求低。

可进行未知标样扫描、无标样定性，半定量分析。

操作简单、易学易懂、精准无损、高品质、高性能、高稳定性，快速出检测结果。

可针对客户个性化要求量身定做辅助分析配置硬件。

软件*升级。

无损检测，一次性购买标样可长期使用。

使用安心无忧，售后服务响应时间24H以内，提供*保姆式服务。

可以远程操作，解决客户使用中的后顾之忧。

可进行RoHS检测（选配功能），应对新版中华人民共和国RoHS检测要求，欧盟及北美RoHS检测等要求标准，精确的测试RoHS指令中的铅、汞、镉、铬、钡、锑、硒、砷等重金属，测试无卤素指令中的溴、氯等有害元素。亦可对成分进行分析。

（二）X射线膜厚测试仪产品特征

高性能高精度X荧光光谱仪（XRF）

计算机/ MCA(多通道分析仪)

2048通道逐次近似计算法ADC（模拟数字转换器）

Multi Ray. 运用基本参数（FP）软件，通过简单的三步进行无标样标定，使用基础参数计算方法，对样品进行精确的镀层厚度分析，可以增加RoHS检测功能。

MTFFP (多层薄膜基本参数法) 模块进行镀层厚度及全元素分析

励磁模式50987.1 DIN / ISO 3497-A1

吸收模式50987.1 DIN / ISO 3497-A2

线性模式进行薄镀层厚度测量

相对（比）模式无焦点测量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497

多镀层厚度同时测量

单镀层应用[如：Cu/ABS等]

双镀层应用[如：Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]

三镀层应用[如：Au/Ni-P/Cu/Brass等]

四镀层应用[如：Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]

合金镀层应[如：Sn-Ni/ABS Pd-Ni/Cu/ABS等]

5. Smart-Ray. 快速、简单的定性分析的软件模块。可同时分析20种元素。半定量分析频谱比较、减法运算和配给。

Smart-Ray. 金属行业精确定量分析软件。可一次性分析25种元素。小二乘法计算峰值反卷积。采用卢卡斯-图思计算方法进行矩阵校正及内部元素作用分析。金属分析精度可达+ /-0.02%，贵金属（8-24 Karat) 分析精度可达+ /-0.05kt

Smart-Ray。含全元素、内部元素、矩阵校正模块

Multi-Ray, Smart-Ray. WINDOWS7软件操作系统

完整的统计函数均值、标准差、低/高读数，趋势线，Cp 和 Cpk 因素等

自动移动平台，用户使用预先设定好的程序进行自动样品测量。大测量点数量= 每9999 每个阶段文件。每个阶段的文件有多 25 个不同应用程序。特殊工具如"线扫描"和"格栅"。每个阶段文件包含*统计软件包。包括自动对焦功能、方便加载函数、瞄准样品和拍摄、激光定位和自动多点测量功能。

（三）X射线膜厚测试仪产品配置及技术指标说明

X射线管：高稳定性X光光管

微焦点X射线管、Mo (钼) 靶

铍窗口，阳极焦斑尺寸75um，油绝缘，气冷式，辐射安全电子管屏蔽。

50kV，1mA。高压和电流设定为应用程序提供优异性能。

探测器：SDD 探测器（可选Si-Pin）

能量分辨率：125±5eV（Si-Pin:159±5eV）

滤光片/可选

初级滤光片：Al滤光片，自动切换

7个准直器：客户可选准直器尺寸或定制特殊尺寸准直器。

(0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm )

样品定位：显示屏上显示样品锁定、简易荷载、激光定位及拍照功能

分析谱线：

- 2048通道逐次近似计算法ADC（模拟数字转换）

- 基点改正（基线本底校正）

- 密度校正

- Multi-Ray软件包含元素ROI及测量读数自动显示

视频系统：高分辨率CCD摄像头、彩色视频系统

- 观察范围：3mm x 3mm

- 放大倍数：40X

- 照明方法：上照式

- 软件控制取得高真图像

计算机、打印机（赠送）

含计算机、显示器、打印机、键盘、鼠标

含Win 7/Win 10系统。

Multi-Ray镀层分析软件

金、钯、镍、铜等多元素X射线光谱测厚仪