贵金属检测仪

我公司销售产品包括X射线荧光光谱仪（含能量色散和波长色散型）（XRF）、电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP）、电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS) 、原子荧光光谱仪（AFS）、原子吸收分光光度计（AAS）、光电直读光谱仪（OES）、气相色谱仪（GC）、气相质谱仪（GC-MS）、液相色谱仪（LC）、液相质谱仪（LC-MS）、能谱仪（EDS）、高频红外碳硫分析仪（CS）、矿浆载流在线采样仪（OSA）等。销售的仪器设备应用于元素分析，化合物测试，电镀镀层厚度检测等。

贵金属检测仪产品信息：

本仪器专门针对贵金属测试，采用新的科技分析X荧光光谱，对贵金属成份进行无损快速分析，该仪器采用新Si-PIN探测器，其分辨率为149±5eV。

应用领域：

贵金属（Pt、Au、Pd、Ag、Rh等）相关制品的生产、销售、回收的检测；

用于各种金属合金（铜合金、铁合金、不锈钢、锡合金等）的成份分析。

功能：

开放式工作曲线，可以根据需求建立新工作区

经验系数法和基本参数法相结合

测试样品：各种不同形状样品，满足大样品测试需求

安全性能：迷宫式设计，*达到辐射安全指标

测试操作简单，实现傻瓜式操作模式

报告模板多样化，适应各种测试需求

仪器参数：

分析方法：基本参数法（定量）

分析元素范围：Na-U,可同时分析26种元素

测量范围：ppm-100%

测量时间：100－300s

度：0.1%（常量相对误差）

分辨率：149±5eV

管压：5KV—50KV

管流：50uA—1000uA

功率：350W

外形尺寸：640（W）*474（D）*412（H）（mm³）

样品仓尺寸：300（W）*300（D）*100（H）（mm³）

重量：约48Kg

工作环境：15－30°C，相对湿度≤85%（不结露）

工作电源：AC220－240V，50/60Hz，350W

标准配置：

探测器： 2级半导体电制冷；探测器晶体厚度500μm；探测灵敏面积6mm²；Be窗厚度为1mil

压电源：压范围0-50kV，功率50W，8h稳定性0.05%

X射线管：薄铍窗侧窗X射线管（Mo靶、Rh靶）

清摄像头装置

定位装置

自动开盖装置

贵金属检测仪

仪器元素分析范围：

可分析从从12号元素Mg到94号元素PU之间的所有元素。