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产品信息:
本仪器专门针对贵金属测试,采用新的科技分析X荧光光谱,对贵金属成份进行无损快速分析,该仪器采用新Si-PIN探测器,其分辨率为149±5eV,运用于的基本参数法,能够准确无误地分析出金、铂金等材料中含有的其它少量杂质元素,其稳定性和可靠性均处于业内水平。
应用领域:
贵金属(Pt、Au、Pd、Ag、Rh等)相关制品的生产、销售、回收的检测;
用于各种金属合金(铜合金、铁合金、不锈钢、锡合金等)的成份分析。
功能:
开放式工作曲线,可以根据需求建立新工作区
安全性能:迷宫式设计,*达到辐射安全指标
测试操作简单,实现简 式操作模式
报告模板多样化,适应各种测试需求
仪器参数:
分析软件:Ux-6280贵金属分析软件
分析元素种类:26种元素可同时分析
分析方法:基本参数法(定量)
分析元素范围:Na-U,可同时分析26种元素
测量范围:ppm-100%
测量时间:100-300s
度:0.1%(常量相对误差)
分辨率:149±5eV
管压:5KV—50KV
管流:50uA—1000uA
功率:350W
重量:约48Kg
工作环境:15-30°C,相对湿度≤85%(不结露)
工作电源:AC220-240V,50/60Hz,350W
标准配置:
探测器: 2级半导体电制冷;探测器晶体厚度500μm;探测灵敏面积6mm2;Be窗厚度为1mil
X射线管:薄铍窗侧窗X射线管(Mo靶、Rh靶)
清摄像头装置
定位装置
自动开盖装置
仪器元素分析范围:
可分析从从12号元素Mg到94号元素PU之间的所有元素。
仪器的分析模式与元素种类 |
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分析模式 |
分析元素 |
元素分析范围 |
从22号元素钛到94号元素PU范围内的31种基本元素,在以上范围内,可以根据客户需要更换其他元素。 |
Alloy Beam1模式 |
Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Ag, Sn, Sb等21元素。 |
Alloy Beam2模式 |
Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Ag, Sn, Sb PLUS Mg, Al, Si, P等25元素 |
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