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  • 电镀镀层X光谱分析仪器

    电镀镀层X光谱分析仪器 本仪器产品特点: 采用了Si-Pin探测器,性能稳定,重复性和重现性好。 在客户远端请求下,我司技术人员可以远程协助用户解决常见操作问题(需连接因特网)。 可进行多达5层的多镀层检测。

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  • X-ray镀层膜厚分析仪

    X-ray镀层膜厚分析仪 镀层测厚仪是一种高性能高精度荧光光谱仪,是工业制造生产中常用的检测仪器,采用非真空样品腔;专业用于PCB电镀镀层分析、PCB镀层厚度测量及金属电镀镀层分析;采用多种光谱拟合分析处理技术;可增加合金成份分析及RoHS功能。具有可靠性高、稳定性好、操作简便等优点,被广泛应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等镀层检测领域。

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  • 电镀金银铜镍铬层膜厚测量仪器

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